電壓檢測開關(guān)是跟其他電路元件接在一起，用來檢測元件或電路的參數(shù)（如電流，電壓等）的一種開關(guān)，檢測開關(guān)具有感應(yīng)功能，主體通常為各種感應(yīng)開關(guān)或接近開關(guān)，需要外接電源才能工作。下面就說說電壓檢測開關(guān)常常會遇到哪些故障！

1.使用初期的故障

以光電開關(guān)、接近開關(guān)等為主體的電壓檢測開關(guān)，半導體一般會在使用初期發(fā)生故障。

其原因是使用在回路中的半導體，在制造中受到種種應(yīng)力而導致在使用開始后的短期內(nèi)發(fā)生破損；另外，功率比半導體低的電阻、電容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開始后的一星期到10天內(nèi)。
2.偶發(fā)故障

包括由于半導體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的斷線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近開關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時，可以考慮為使用環(huán)境的問題，請向廠家咨詢。

3.負荷短路與配線錯誤

由于配線錯誤或帶電作業(yè)引起負荷短路時，導致大電流流向電壓檢測開關(guān)，輸出回路燒毀。作為在檢測開關(guān)外進行的保護對策，可使用切斷快速熔斷器短路電流的方法，通過熔斷器進行保護，不僅可保護負荷短路，還對地線有保護作用。但是，由于開關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小，達不到100[%]的效果。

4.干擾波導致的破損

由干擾波帶來的破損是慢慢形成的，因此在開始使用后的一個月或二三個月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該期間發(fā)生破損時，其原因則可判斷為干擾波。電感負載開閉時發(fā)生的電壓檢測開關(guān)的瞬間錯誤動作是由干擾波造成的。